半導體參數曲線測試系統
支持 IV/VI 測試,適用于三電極CV、LSV等電化學測試;
具備 V-t/I-t/R-t/P-t 實時監測,可用于傳感器與電化學過程分析;
提供 IVRP-t 緩存測試,支持微秒級高速采樣;
集成 太陽能電池 I-V 測試,自動計算開路電壓、短路電流、填充因子與轉換效率;
支持多種信號輸出:方波、脈沖、階梯、正弦及自定義波形,適用于憶阻器、晶體管等器件測試。
可測量電容、電感、阻抗、電導率、介電常數、Q因子等交流參數;
支持頻率響應分析(C-F)與偏壓掃描測試(C-V);
配備高精度LCR測量功能,基本精度達0.05%,頻率范圍DC~8 MHz。






