Our Solution
解決方案
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半導體參數測量為客戶提供從晶元到系統的專業半導體測試方案,并提供搭配其他測試設備。針對高功率半導體材料或半導體器件,搭配高功率晶體管參數曲線圖示儀詳情 -
光電耦合測量探針臺選型指南:探針臺體尺寸,顯微觀察倍率,探針座和夾具,屏蔽和隔振。光電集成方案:光源種類,光電結合方式...詳情 -
真空低溫測量開循環/閉循環制冷和溫度范圍可選;低倍體視/高倍金相顯微觀察可選;可配1~6個微定位波紋臂,測試夾具有直流、開爾文...詳情 -
變溫環境測量高低溫探針臺選型指南,低溫制冷原理,HTM系列密閉高低溫探針臺...詳情 -
射頻/微波測量配套儀表:矢量網絡分析儀、頻譜儀、信號發生器、示波器、鎖相放大器、數字源表、半導體參數分析儀等。詳情 -
高壓/大電流測量高壓/大電流測量用于對各種電器產品、電氣元件、絕緣材料等進行規定電壓下的絕緣強度試驗,以考核產品的絕緣水平...詳情